| පරීක්ෂා කිරීම සහ පරීක්ෂා කිරීම | අවම සාම්පල ප්රමාණය | මට්ටමින් |
|
|
| කාණ්ඩයේ ප්රමාණය කෑලි 200 ට නොඅඩු වේ | කාණ්ඩ ප්රමාණය: 1-199 කෑලි (සටහන 1 බලන්න) |
|
| අවශ්ය පරීක්ෂණය |
|
| මට්ටමකි |
| කොන්ත්රාත් පෙළ සහ කැප්සියුලේෂන් |
|
| A1 |
| ගිවිසුම් පෙළ සහ ඇසුරුම් පරීක්ෂාව (4.2.6.4.1) (විනාශකාරී නොවන) | සෑම | සෑම |
|
| පෙනුම පරීක්ෂා කිරීම |
|
| A2 |
| ඒ.සමස්ත (4.2.6.4.2.1) (විනාශකාරී නොවන) | සෑම | සෑම |
|
| බී.විස්තර (4.2.6.4.2.2) (විනාශකාරී නොවන) | කෑලි 122 යි | කෑලි 122 ක් හෝ සියල්ල (කණ්ඩායම් ප්රමාණය කෑලි 122 ට අඩු) |
|
| නැවත ටයිප් කිරීම සහ අලුත්වැඩියා කිරීම (අහිමි) | සටහන 2 බලන්න | සටහන 2 බලන්න | A3 |
| ටයිප් කිරීම සඳහා ද්‍රාවක පරීක්ෂණය (4.2.6.4.3A) (අහිමි) | කෑලි 3 ක් | කෑලි 3 ක් |
|
| අළුත්වැඩියා කිරීම සඳහා ද්‍රාවක පරීක්ෂණය (4.2.6.4.3B) (අහිමි) | කෑලි 3 ක් | කෑලි 3 ක් |
|
| එක්ස් කිරණ හඳුනාගැනීම |
|
| A4 |
| X-ray හඳුනාගැනීම (4.2.6.4.4) (විනාශකාරී නොවන) | කෑලි 45 යි | කෑලි 45 ක් හෝ සියල්ල (කණ්ඩායම් ප්රමාණය කෑලි 45 ට අඩු) |
|
| ඊයම් හඳුනාගැනීම (XRF හෝ EDS/EDX) | සටහන 3 බලන්න | සටහන 3 බලන්න | A5 |
| XRF (පාඩු රහිත) හෝ EDS/EDX (අහිමි) (4.2.6.4.5) (ඇමුණුම C.1) | කෑලි 3 ක් | කෑලි 3 ක් |
|
| විවෘත ආවරණ අභ්යන්තර විශ්ලේෂණය (අහිමි) | සටහන 6 බලන්න | සටහන 6 බලන්න | A6 |
| විවෘත ආවරණය (4.2.6.4.6) (අහිමි) | කෑලි 3 ක් | කෑලි 3 ක් |
|
| අතිරේක පරීක්ෂාව (සමාගම සහ පාරිභෝගිකයා විසින් එකඟ වේ) |
|
|
|
| නැවත ටයිප් කිරීම සහ අලුත්වැඩියා කිරීම (අහිමි) | සටහන 2 බලන්න | සටහන 2 බලන්න | A3 විකල්පය |
| ස්කෑන් ඉලෙක්ට්‍රෝන අන්වීක්ෂය (4.2.6.4.3C) (අහිමි) | කෑලි 3 ක් | කෑලි 3 ක් |
|
| මතුපිට ප්‍රමාණාත්මක විශ්ලේෂණය (4.2.6.4.3D) (විනාශකාරී නොවන) | කෑලි 5 ක් | කෑලි 5 ක් |
|
| තාප පරීක්ෂණය |
|
| B මට්ටම |
| තාප චක්‍ර පරීක්ෂණය (ඇමුණුම C.2) | සෑම | සෑම |
|
| විද්යුත් ගුණාංග පරීක්ෂා කිරීම |
|
| C මට්ටම |
| විදුලි පරීක්ෂාව (ඇමුණුම C.3) | කෑලි 116 යි | සෑම |
|
| වයස්ගත පරීක්ෂණය |
|
| D මට්ටම |
| පිළිස්සුම් පරීක්ෂාව (පරීක්ෂාවට පෙර සහ පසු) (ඇමුණුම C.4) | කෑලි 45 යි | කෑලි 45 ක් හෝ සියල්ල (කණ්ඩායම් ප්රමාණය කෑලි 45 ට අඩු) |
|
| තද බව තහවුරු කිරීම (අවම කාන්දු වීමේ අනුපාතය සහ උපරිම කාන්දු අනුපාතය) |
|
| ඊ මට්ටම |
| තද බව තහවුරු කිරීම (අවම සහ උපරිම කාන්දුවීම් අනුපාත) (ඇමුණුම C.5) | සෑම | සෑම |
|
| ධ්වනි ස්කෑනිං පරීක්ෂණය |
|
| F මට්ටම |
| ධ්වනි පරිලෝකන අන්වීක්ෂය (ඇමුණුම C.6) | රීතිය අනුව | රීතිය අනුව |
|
| අනික් |
|
| G මට්ටම |
| වෙනත් පරීක්ෂණ සහ පරීක්ෂණ | රීතිය අනුව | රීතිය අනුව |
සටහන්:
1. කෑලි 10 ට අඩු කණ්ඩායම් සඳහා, Cognizant ඉංජිනේරුවන් විසින් ඔවුන්ගේ තනි අභිමතය පරිදි, පරීක්ෂණයේ ගුණාත්මකභාවය සහ පාරිභෝගිකයාගේ කැමැත්තට යටත්ව, "අහිමි" පරීක්ෂණය සඳහා නියැදි ප්රමාණය 1 කෑල්ලක් දක්වා අඩු කළ හැකිය.
2. නැවත ටයිප් කිරීම සහ නවීකරණය කිරීමේ පරීක්ෂණ සඳහා සාම්පල "පෙනුම පරීක්ෂා කිරීම - විස්තර පරීක්ෂා කිරීම" සඳහා කණ්ඩායමෙන් තෝරා ගත හැකිය.
3. "පෙනුම පරීක්ෂණය - විස්තර පරීක්ෂණය" සඳහා කණ්ඩායමෙන් ඊයම් පරීක්ෂණ සාම්පල තෝරා ගත හැක.
4. "නැවත ටයිප් කිරීම සහ අළුත්වැඩියා කිරීමේ පරීක්ෂණය" සිදු කරන කණ්ඩායමෙන් විවෘත ආවරණ පරීක්ෂණ සාම්පල තෝරා ගත හැක.